[发明专利]自洁式下触点

摘要

一种电气组件处理机(2)，能检测电气电路组件并包括自洁式下触点(100)，该处理机能降低产量损失和提供援助平均间隔时间。电气组件处理机(2)的优选实施例包括多组上触点和下触点(102，100)，其中每组触点在空间上对准以电接触单个的被测器件(DUT)(14)。每个DUT(14)固定在检测盘(5)上，检测盘(5)将DUT(14)传送至上下触点之间(102，100)的检测测量位置并将DUT从检测测量位置传送出去。下触点(100)包括触头(116)，当进行检测过程时，偏置机构(130)推动触头(116)抵靠电气组件；当传送电气组件时，偏置机构(130)推动触头(116)抵靠检测盘(5)的表面。下触点(100)摩擦检测盘(5)，以此有助于去除触头(116)在组件处理机操作中得到的污染物。

主权项

1.在一种电气组件处理机中具有改进，该处理机包括第一和第二触点，该第一和第二触点在空间上对准以在测试过程中电接触由检测盘呈送的电气组件，该检测盘将所述电气组件传送至组件处理机检测区并将所述电气组件从组件处理机检测区传送出去，所述检测盘具有位于临近所述第一触点的位置的表面，所述改进包括：所述第一触点包括外壳和可向所述外壳外移动的可延伸的触点元件，所述可延伸的触点元件包括以触头结束的端部；和偏置机构，在进行所述检测过程时，该偏置机构向所述触头施力以推动所述触头抵靠所述电气组件；当传送所述电气组件时，该偏置机构向所述触头施力以推动触头抵靠所述检测盘的第一表面，对所述触头的所述推动抵靠所述第一表面有助于去除所述触头在组件处理机操作中得到的污染物材料。