[发明专利]在激光微调电阻器期间降低热电效应

摘要

通过进行电压测量来解决在电阻器(20)的激光微调期间所发生的热电效应。使用归因于在低功率模拟微调(10)期间的电阻器(20)上激光加热所导致的电压来判断电阻器(20)上的一相对热中性的位置(18)。之后则能够在所有类似的电阻器(20)上执行微调至数值的操作。同样也能够在微调操作中的每一个脉冲前后进行电压测量，以建立能够用来补偿所需的微调数值的热偏差信息，所需的微调数值可以与电阻器测量数值比较。同样也能够顺序地微调横列或者纵行中空间上间隔或者非邻接的电阻器(20)，以最小化加热效应，否则该热效应可能会致使邻接或者邻近的电阻器(20)的电阻数值失真。

主权项

1.一种利用激光输出来微调电阻器的电阻器材质以改变所述电阻器的初始电阻数值为标称电阻数值的方法，其中所述电阻器材质具有定位于电气接点之间的表面区域，并且其支承于一基片之上，其中施加至所述电阻器材质的激光输出在所述电阻器中感应出热电效应，此热电效应导致所述电阻器呈现一种偏离在无激光输出期间所测量到的电阻器真实和/或稳态电阻数值的错误和/或瞬时电阻数值，致使所施加的激光输出妨碍就在所施加的激光输出之后真实和/或稳态电阻数值的准确测量值，一种用来降低激光感应热电效应所致的电阻数值偏差的方法，其包括：将测量设备的探针定位，与单个电阻器或者一组电阻器中各个电阻器相互通信；设定所述测量设备所施加的电流数值为一个参考或者零数值；导引激光输出的各组一个或者多个评估求值脉冲沿着个别的仿真路径，以将热施加至单个电阻器或者各个电阻器的表面区域上不同的各个位置；在所述各组评估求值激光脉冲之后，测量跨于所述单个电阻器或者所述各个电阻器上的电压数值，以得到所述各个不同位置中每一个的电压偏差信息；使用所述电压偏差信息来判断所述各个电阻器的所述各个表面区域上的优选位置，其呈现最小电压偏差；以及沿着所述单个电阻器表面区域的所述优选位置和/或所述电阻器组中的某些或全部电阻器的表面区域的所述优选位置的微调路径，导引激光输出的微调脉冲，以移除其电阻器材质，进而改变其初始电阻数值为标称电阻数值，以降低因所述激光输出所感应的热电电阻偏差。