[发明专利]表面波等离子体处理系统和使用方法有效

专利信息
申请号: 200580031574.4 申请日: 2005-08-10
公开(公告)号: CN101023505A 公开(公告)日: 2007-08-22
发明(设计)人: 陈立;田才忠;松本直树 申请(专利权)人: 东京毅力科创株式会社
主分类号: H01J7/24 分类号: H01J7/24;H05B31/26
代理公司: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 代理人: 王怡
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种SWP源包括电磁(EM)波发射器,所述电磁波发射器被配置为通过在与等离子体相邻的EM波发射器的等离子体表面上生成表面波来将EM能量以期望的EM波模式耦合到等离子体。功率耦合系统耦合到EM波发射器,并且被配置为将EM能量提供到EM波发射器以形成等离子体。耦合到EM波发射器的等离子体表面的盖片保护EM波发射器免受等离子体的影响。
搜索关键词: 表面波 等离子体 处理 系统 使用方法
【主权项】:
1.一种表面波等离子体(SWP)源,包括:电磁(EM)波发射器,所述电磁波发射器被配置为通过在与所述等离子体相邻的所述EM波发射器的等离子体表面上生成表面波来将EM能量以期望的EM波模式耦合到所述等离子体;以及功率耦合系统,所述功率耦合系统耦合到所述EM波发射器,并且被配置为将所述EM能量提供到所述EM波发射器以形成所述等离子体;以及盖片,所述盖片耦合到所述EM波发射器的所述等离子体表面,并且被配置为保护所述EM波发射器免受所述等离子体的影响。
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