[发明专利]电路互联测试装置及其方法无效
申请号: | 200580032872.5 | 申请日: | 2005-07-28 |
公开(公告)号: | CN101031809A | 公开(公告)日: | 2007-09-05 |
发明(设计)人: | 罗杰·弗兰克斯·舒德尔特;汤姆·瓦叶尔斯 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/3185 | 分类号: | G01R31/3185 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 朱进桂 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | 检测集成电路的逻辑电平交叉。根据一个示例性实施例,把复位信号作为集成电路的逻辑电平的函数提供给触发器(314)。集成电路的逻辑电平交叉条件表示为触发器的复位条件的函数。在一个实施方式中,当逻辑电平与期望的逻辑电平不同时,触发器被复位。在另一实施方式中,实现了一对触发器(414,418),使得在特定的逻辑电平仅仅一个触发器被复位。如果逻辑电平出现交叉,两个触发器都被复位。上述两个触发器被复位的条件用于指示逻辑电平交叉。 | ||
搜索关键词: | 电路 联测 试装 及其 方法 | ||
【主权项】:
1.一种边界扫描电路装置,用于检测集成电路中的逻辑电平交叉,所述边界扫描电路装置包括:逻辑电平交叉检测电路(160),它包括具有与复位信号相连的复位输入的触发器(314),所述复位信号具有根据所述集成电路的实际逻辑电平而变化的值,所述触发器根据所述复位信号而从“1”被复位至“0”值;以及逻辑电平交叉电路,适于根据所述触发器的复位条件而指示所述集成电路的逻辑电平交叉条件。
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