[发明专利]测量装置有效
| 申请号： | 200580033422.8 | 申请日： | 2005-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN101031791A | 公开（公告）日： | 2007-09-05 |
| 发明（设计）人： | 伊藤佑树;畑仁;中西弘幸 | 申请（专利权）人： | 爱科来株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/59 | 分类号： | G01N21/59;G01N21/78;G01N21/27;G01N33/483;G01N21/77;G01N33/66 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 胡建新 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 使用一种具备光源(4)、输出对应于光的强度的大小的信号的第1受光元件(5)及第2受光元件(6)、运算部(12)、和存储部(13)的测量装置。第1受光元件(5)及光源(4)配置为，使透射试料的来自光源的透射光由第1受光元件(5)接受。第2受光元件(6)配置为，使其接受从光源(4)射出的透射光以外的光。在存储部(13)中存储有在没有试料的状态下从光源(4)射出光时的第1受光元件(5)的输出值和第2受光元件(6)的输出值的相关关系。运算部根据在存在试料的状态下从光源(4)射出光时的第1受光元件(5)及第2受光元件(6)的输出值和相关关系，计算包含在试料中的对象成分的吸光度。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 装置 | ||
【主权项】：
1、一种测量装置，测量包含在试料中的对象成分的吸光度，其特征在于，具备射出被上述对象成分吸收的波长的光的光源、输出与接受的光的强度相对应的大小的信号的第1受光元件及第2受光元件、运算部、以及存储部；上述第1受光元件及上述光源配置为，使从上述光源射出、且透射上述试料的透射光由上述第1受光元件接受；上述第2受光元件配置为，使其接受从上述光源射出的上述透射光以外的光；上述存储部对在不存在上述试料的状态下从上述光源射出光时的上述第1受光元件的输出值与上述第2受光元件的输出值的相关关系进行存储；上述运算部根据在存在上述试料的状态下从上述光源射出光时的上述第1受光元件及上述第2受光元件的输出值和上述相关关系，计算上述对象成分的吸光度。
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