[发明专利]估测裂缝几何形状的方法，用于该方法的组合物和制品有效
| 申请号： | 200580033875.0 | 申请日： | 2005-10-04 |
| 公开（公告）号： | CN101123890A | 公开（公告）日： | 2008-02-13 |
| 发明（设计）人： | S·M·麦卡锡;R·R·麦克丹尼尔;M·L·谢里夫;J·弗劳尔斯 | 申请（专利权）人： | 禾逊专业化学公司 |
| 主分类号： | A23L2/02 | 分类号： | A23L2/02 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 龙传红 |
| 地址： | 美国得*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 在这里公开的是测定地下裂缝的裂缝几何形状的方法，该方法包括在裂缝中引入目标颗粒和/或支撑剂；向裂缝发送具有约300兆赫到约100千兆赫的频率的电磁辐射；和分析来自目标颗粒的反射信号以确定裂缝几何形状。在这里还公开的是测定地下裂缝的裂缝几何形状的方法，包括：在裂缝中引入目标颗粒和/或支撑剂；其中目标颗粒和/或支撑剂包括介电常数大于或等于约2的高介电常数陶瓷；在裂缝中输入具有小于或等于约3千兆赫的频率的电磁辐射；和分析来自于目标颗粒和/或支撑剂的反射信号以测定裂缝几何形状。 | ||
| 搜索关键词： | 估测 裂缝 几何 形状 方法 用于 组合 制品 | ||
【主权项】：
1.测定地下裂缝的裂缝几何形状的方法，包括：在裂缝中引入目标颗粒和/或支撑剂；向裂缝发送具有约300兆赫到约100千兆赫的频率的电磁辐射；和分析来自于目标颗粒和/或裂缝表面的反射信号以确定裂缝几何形状。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于禾逊专业化学公司，未经禾逊专业化学公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200580033875.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：用于除去气流中微粒的设备和方法
- 下一篇：一种镁合金熔池式坩埚电阻炉
