[发明专利]荧光pH检测器系统和相关方法有效
| 申请号： | 200580033961.1 | 申请日： | 2005-08-19 |
| 公开（公告）号： | CN101036046A | 公开（公告）日： | 2007-09-12 |
| 发明（设计）人： | M·W·里德;S·J·吉尔胡德;P·C·哈里斯;R·D·法尔兹格拉夫 | 申请（专利权）人： | 血细胞保存公司 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64;A61B5/00;G01N21/77 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 李华英 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种荧光pH检测器和使用荧光ph检测器测量pH的方法。用于测定样品性质，如pH或二氧化碳浓度的方法和系统使用探测器，所述探测器输送激励光并在至少两个波长处接收来自固定于基质上的荧光物质的发射光。所述探测器例如通过窗口与基质上的荧光物质物理分离。在第一和第二波长处接收到的光被用于测定样品的性质。此外，可以在基质上提供尖端，使得可以允许分析物例如经由半透膜与所述基质接触。 | ||
| 搜索关键词： | 荧光 ph 检测器 系统 相关 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于测量样品的pH的方法，包括：用从探测器发射的激励光照射固定在基质上的荧光物质，该探测器与固定在基质上的荧光物质物理隔离，其中固定在基质上的荧光物质与样品液体连通，其中激励光具有足以使荧光从荧光物质发射的波长，其中荧光物质在第一发射波长具有第一发射强度，在第二发射波长具有第二发射强度，第一和第二发射强度的比率取决于pH；以及(b)测量第一和第二发射强度以确定样品的pH。
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