[发明专利]增强纳米分光镜扫描的方法和装置无效
| 申请号： | 200580034050.0 | 申请日： | 2005-10-05 |
| 公开（公告）号： | CN101036039A | 公开（公告）日： | 2007-09-12 |
| 发明（设计）人： | V·波波尼恩 | 申请（专利权）人： | VP控股有限公司 |
| 主分类号： | G01J3/44 | 分类号： | G01J3/44;G01N21/65 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人： | 程伟 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种确定线性聚合体样品中化学基团序列的同一性的装置和方法。该装置包括具有由等离子共振金属所形成镜表面的基体、光束源和由一个或多个设置在限定探测区域开口处周围的等离子共振粒子构成的透镜组件。当光束定向在探测区域的样品上时，粒子布置成在多个纳米透镜和基体表面上的面对的探测区域间产生近场电磁间隙模式。还包括一个探测器和一个平移机构，该探测器用于接收由探测区域中样品所放射的或从样品所散射的光，并将接收到的光转换成间隙模式增强拉曼光谱，由此识别探测区域中样品的取样化学基团，该平移机构用于相对于透镜组件移动样品，通过透镜组件的开口。 | ||
| 搜索关键词： | 增强 纳米 分光镜 扫描 方法 装置 | ||
【主权项】：
1、用于确定线性聚合体样品中化学基团序列，如核酸中碱基序列的同一性的装置，该装置包括：具有由等离子共振金属形成的镜表面的基体，光束源，透镜组件，由一个或多个设置在限定探测区域开口处周围的等离子共振粒子组成，并布置成当光束定向在探测区域中的样品上时，在多个纳米透镜和基体表面上的面对的探测区域之间的空间中产生近场电磁间隙模式，多个纳米透镜和基体之间的间隙具有40nm或更小的选定间距，探测器，用于接收由探测区域中的样品所放射或所散射的光，并用于将所接收光转换成间隙模式增强的拉曼光谱，由此可以识别探测区域中样品的取样化学基团，和平移机构，用于相对于透镜组件通过透镜组件的开口将样品移动到探测区域中样品的下一个化学基团的位置上。
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