[发明专利]使用依赖角度的灵敏度的基于自旋转移的MRAM无效
申请号: | 200580034110.9 | 申请日: | 2005-09-27 |
公开(公告)号: | CN101036195A | 公开(公告)日: | 2007-09-12 |
发明(设计)人: | 弗雷德里克·B·曼科夫;布雷德利·N·恩格尔;尼古拉斯·D·里佐 | 申请(专利权)人: | 飞思卡尔半导体公司 |
主分类号: | G11C11/00 | 分类号: | G11C11/00 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 穆德骏;黄启行 |
地址: | 美国得*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 使用自旋转移反射模式技术可以选择性地写入磁随机存取存储器(MRAM)设备(200)。通过自旋转移切换电流对MRAM单元中的极化器元件(204)和自由磁元件(208)的磁化之间的相对角度的依赖关系,实现了MRAM阵列中的指定MRAM单元的选择性。极化器元件具有可变磁化,其可以响应电流施加而改变,例如,响应数位电流(226)的施加而改变。当极化器元件的磁化处于天然的缺省取向中时,保持MRAM单元中的数据。当切换极化器元件的磁化时,可以响应相对低的写入电流(224)的施加,将数据写入MRAM单元。 | ||
搜索关键词: | 使用 依赖 角度 灵敏度 基于 自旋 转移 mram | ||
【主权项】:
1.一种磁随机存取存储器(MRAM)设备,包括:磁极化器,其具有第一可变磁化;自由磁元件,其具有第二可变磁化;传导隔层元件,其位于所述磁极化器和所述自由磁元件之间。
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