[发明专利]使用依赖角度的灵敏度的基于自旋转移的MRAM无效

专利信息
申请号: 200580034110.9 申请日: 2005-09-27
公开(公告)号: CN101036195A 公开(公告)日: 2007-09-12
发明(设计)人: 弗雷德里克·B·曼科夫;布雷德利·N·恩格尔;尼古拉斯·D·里佐 申请(专利权)人: 飞思卡尔半导体公司
主分类号: G11C11/00 分类号: G11C11/00
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 代理人: 穆德骏;黄启行
地址: 美国得*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 使用自旋转移反射模式技术可以选择性地写入磁随机存取存储器(MRAM)设备(200)。通过自旋转移切换电流对MRAM单元中的极化器元件(204)和自由磁元件(208)的磁化之间的相对角度的依赖关系,实现了MRAM阵列中的指定MRAM单元的选择性。极化器元件具有可变磁化,其可以响应电流施加而改变,例如,响应数位电流(226)的施加而改变。当极化器元件的磁化处于天然的缺省取向中时,保持MRAM单元中的数据。当切换极化器元件的磁化时,可以响应相对低的写入电流(224)的施加,将数据写入MRAM单元。
搜索关键词: 使用 依赖 角度 灵敏度 基于 自旋 转移 mram
【主权项】:
1.一种磁随机存取存储器(MRAM)设备,包括:磁极化器,其具有第一可变磁化;自由磁元件,其具有第二可变磁化;传导隔层元件,其位于所述磁极化器和所述自由磁元件之间。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于飞思卡尔半导体公司,未经飞思卡尔半导体公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200580034110.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top