[发明专利]热分析设备有效
申请号: | 200580036315.0 | 申请日: | 2005-08-26 |
公开(公告)号: | CN101048654A | 公开(公告)日: | 2007-10-03 |
发明(设计)人: | 中谷林太郎 | 申请(专利权)人: | 精工电子纳米科技有限公司 |
主分类号: | G01N25/20 | 分类号: | G01N25/20 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 王岳;刘宗杰 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 电磁波数据采集控制机构(6)判断电磁波数据是否与电磁波数据采集触发器设置机构(7)设置的触发器条件匹配,如果匹配则采集电磁波。电磁波数据关联机构(10)将热分析数据上生成触发器的位置与电磁波数据相联系。利用所获得的结果,电磁波数据识别机构(14)识别对应于所指定的热分析数据上的位置的电磁波数据,并将所述电磁波数据输出到所述热分析数据的附近。 | ||
搜索关键词: | 分析 设备 | ||
【主权项】:
1.一种热分析设备,包括:对样本加热的加热炉,控制所述加热炉的温度的温度控制器,探测所述样本的温度的温度传感器,热分析数据保存机构,其将来自所述温度传感器和物理量传感器的信号作为热分析数据保存,电磁波数据采集机构,其采集电磁波数据,所述电磁波数据是通过探测来自所述样本的电磁波以将其数字化而得到的,电磁波数据采集触发器设置机构,其设置用于所述电磁波数据的采集的触发器,电磁波数据采集控制机构,其根据所述电磁波数据采集触发器设置机构内的设置控制所述电磁波数据的采集,以及电磁波数据保存机构,其保存所述电磁波数据。
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