[发明专利]聚合物薄膜等的双折射测量有效
| 申请号： | 200580036436.5 | 申请日： | 2005-10-24 |
| 公开（公告）号： | CN101076714A | 公开（公告）日： | 2007-11-21 |
| 发明（设计）人： | 王宝良 | 申请（专利权）人： | 海因兹仪器公司 |
| 主分类号： | G01J4/00 | 分类号： | G01J4/00 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 郑立;车文 |
| 地址： | 美国俄*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 提供用于确定诸如聚合物薄膜的光学材料的双折射等级的方法。在一个实施例中，该方法利用具有已知的系统参考角度的光学组件的装置。样品(136)可以是快轴角度在样品(136)中具有预定定向的拉伸的聚合物薄膜。系统(120)被操作以将样品(136)的快轴方向对准该系统的参考角度，并且在样品(136)的一个位置处测量双折射等级。作为本发明的一个方面，描述了用于在非常宽的范围且高达数万纳米上精确地确定双折射等级的实施例和方法。 | ||
| 搜索关键词： | 聚合物 薄膜 双折射 测量 | ||
【主权项】：
1.一种确定光学材料的样品的双折射等级的方法，该方法利用具有已知的系统参考角度的光学组件的装置，其中该样品具有在样品中具有预定定向的快轴角度，该方法包括步骤：将该样品的快轴方向对准该系统的参考角度；以及在该样品上的一位置处测量该双折射等级。
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