[发明专利]放射线检测器无效
| 申请号： | 200580037296.3 | 申请日： | 2005-09-30 |
| 公开（公告）号： | CN101048674A | 公开（公告）日： | 2007-10-03 |
| 发明（设计）人： | 佐藤贤治;吉牟田利典 | 申请（专利权）人： | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号： | G01T1/24 | 分类号： | G01T1/24;H01L31/09;H01L27/14;H04N5/32 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 李贵亮 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种放射线检测器，其能够容易地安装具有半导体层的衬底和光照射机构。其具备：玻璃衬底(11)，其具有通过X射线的入射，变换为载流子的X射线感应型半导体(14)；平面形状的光照射机构(28)，其设置在该玻璃衬底(11)的X射线入射侧的相反侧，从而将X射线感应型半导体(14)中残留的载流子用从光照射机构(28)照射的光除去。在玻璃衬底(11)和光照射机构(28)之间夹有具有透光性的凝胶状粘接板(32)，并且光照射机构28为平面形状，因此能够容易地安装玻璃衬底(11)和光照射机构(28)。此外，因为所夹有的粘接板(32)具有透光性，所以从光照射机构(28)照射的光不被遮蔽，能够透过粘接板(32)照射到玻璃衬底(11)上。 | ||
| 搜索关键词： | 放射线 检测器 | ||
【主权项】：
1.一种放射线检测器，其具备：衬底，其具有通过放射线的入射，将所述放射线的信息变换为电荷信息的半导体层；平面形状的光照射机构，其设置在该衬底的放射线入射侧的相反侧，通过读出变换后的电荷信息来检测放射线，用从所述光照射机构照射的光除去所述半导体层中残留的电荷信息，该放射线检测器的特征在于，所述衬底和光照射机构通过在它们之间夹有具有透光性的物质而进行安装。
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