[发明专利]取样电路与测试装置无效
| 申请号： | 200580038251.8 | 申请日： | 2005-10-27 |
| 公开（公告）号： | CN101057402A | 公开（公告）日： | 2007-10-17 |
| 发明（设计）人： | 山川雅裕;梅村芳春;淡路利明;志波诚士 | 申请（专利权）人： | 爱德万测试株式会社 |
| 主分类号： | H03K3/313 | 分类号： | H03K3/313;H03K17/00 |
| 代理公司： | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 寿宁 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明是有关于一种取样电路，其对所施加的输入信号进行取样，包括：脉波产生器，其对应于输入信号应取样时的时序以产生脉波信号；突返二极管，其对应于脉波信号以输出一取样脉波；检出器，其对应于取样脉波以检出该输入信号的值；温度检出电路，其检出该突返二极管近旁的温度；以及温度补偿部，其依据温度检出电路所检出的温度以控制该突返二极管在输出该取样脉波时的时序。 | ||
| 搜索关键词： | 取样 电路 测试 装置 | ||
【主权项】：
1、一种取样电路，其对所施加的输入信号进行取样，其特征在于该取样电路包括：脉波产生器，其对应于输入信号应取样时的时序以产生脉波信号；突返二极管，其对应于脉波信号以输出该取样脉波；检出器，其对应于取样脉波以检出该输入信号的值；温度检出电路，其检出该突返二极管近旁的温度；以及温度补偿部，其依据温度检出电路所检出的温度以控制该突反二极管在输出该取样脉波时的时序。
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