[发明专利]三维测量装置、三维测量方法以及三维测量程序有效
| 申请号： | 200580039510.9 | 申请日： | 2005-10-24 |
| 公开（公告）号： | CN101061367A | 公开（公告）日： | 2007-10-24 |
| 发明（设计）人： | 卢存伟 | 申请（专利权）人： | 学校法人福冈工业大学 |
| 主分类号： | G01B11/25 | 分类号： | G01B11/25;G06T1/00 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 | 代理人： | 许静 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 提供能够用一次投影得到很多图形光信息、能够得到高速而且高精度的三维测量信息的三维测量装置、三维测量方法以及三维测量程序。本发明的三维测量装置由作为向测量对象物A投影图形光的投影单元的图形投影机(1)、作为摄影投影有图形光的测量对象物(A)来摄影图像的摄影单元的照相机(2)、和处理通过该照相机(2)摄影的图像的数据的计算机(3)构成。通过计算机(3)，根据从摄影的图像检测到的投影图形光的强度值计算形成投影图形光的个别图形光的方位角，同时分割强度分布，根据被分割的图形的各测量点的相位值计算纵深距离，所以能够得到精度高的三维信息。 | ||
| 搜索关键词： | 三维 测量 装置 测量方法 以及 程序 | ||
【主权项】：
1.一种三维测量装置，其特征在于，具有：形成向测量对象物投影的光的图形的图形形成单元；向所述测量对象物投影通过所述图形形成单元形成的图形的光(以下称“图形光”)的投影单元；摄影投影有所述图形光的测量对象物来取得图像的摄影单元；从所述图像检测所述被投影的图形光(以下称“投影图形光”)的投影图形光检测单元；比较所述投影图形光和原来的图形光，计算所述投影图形光的方位角的方位角计算单元；每一周期分割所述投影图形光的分割单元；从所述被分割的投影图形光计算测量点的相位值的相位值计算单元；根据所述计算出来的相位值计算测量点的纵深距离的距离计算单元；和使用所述计算出来的测量点的纵深距离计算所述测量对象物的三维信息的三维信息计算单元。
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