[发明专利]用于检测光管理膜的系统和方法以及制造光管理膜的方法无效
| 申请号： | 200580040640.4 | 申请日： | 2005-09-19 |
| 公开（公告）号： | CN101065657A | 公开（公告）日： | 2007-10-31 |
| 发明（设计）人： | K·P·卡帕尔多;Y·胡;C·杨;Y·张 | 申请（专利权）人： | 通用电气公司 |
| 主分类号： | G01N21/958 | 分类号： | G01N21/958;G01N21/88;G01M11/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 段晓玲;赵苏林 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种检测光管理膜(22)的方法，包括将来自于头顶光源(28)的光从光管理膜(22)的第一面反射出并检测所述光管理膜(22)的缺陷；引导来自于背光光源(18)的透射光通过所述光管理膜(22)的第二面到达第一面并检测所述光管理膜(22)的缺陷；将来自于所述头顶光源(28)的光从所述光管理膜(22)的第二面反射出并检测所述光管理膜(22)的缺陷；引导来自于所述背光光源(18)的透射光通过所述光管理膜(22)的第一面到达第二面并检测所述光管理膜(22)的缺陷；以及测量各测得缺陷在光管理膜(22)中的位置。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 管理 系统 方法 以及 制造 | ||
【主权项】：
1.一种检测光管理膜的方法，所述方法包括：将来自于头顶光源的光从光管理膜的第一面反射出并检测所述光管理膜的缺陷；引导来自于背光光源的透射光通过所述光管理膜的第二面到达第一面并检测所述光管理膜的缺陷；将来自于所述头顶光源的光从所述光管理膜的第二面反射出并检测所述光管理膜的缺陷；引导来自于所述背光光源的透射光通过所述光管理膜的第一面到达第二面并检测所述光管理膜的缺陷；以及测量各测得缺陷在光管理膜中的位置。
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