[发明专利]光谱分析单粒子的系统和方法无效
| 申请号： | 200580040790.5 | 申请日： | 2005-01-28 |
| 公开（公告）号： | CN101115985A | 公开（公告）日： | 2008-01-30 |
| 发明（设计）人： | R·普斯卡斯;P·戈伊克斯;R·A·利文斯顿;D·D·赫尔德;B·克莱因;N·富库希马;R·弗里兹;P·戴维;M·厄迪娅 | 申请（专利权）人： | 神谷来克斯公司 |
| 主分类号： | G01N21/00 | 分类号： | G01N21/00;G01N21/03;G01N21/75;G01N21/76 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 | 代理人： | 孟凡宏 |
| 地址： | 美国密*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明包括分析器和包括单粒子分析器的分析器系统，使用该分析器和分析器系统分析样品的单粒子或多粒子(多路)的方法，基于应用该系统的分析器或分析器系统进行商业活动的方法，和用于存储在本发明的分析器和分析器系统中有用的参数的电子介质。 | ||
| 搜索关键词： | 光谱分析 粒子 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种单粒子分析器系统，包括：(a)能够自动采集多个样品和提供样品容器和第一探询空间流体连通的采样系统；和(b)能够检测单粒子的分析器，包括：(i)用于发出电磁辐射的电磁辐射源；(ii)设置为接受所述电磁辐射源发出的电磁辐射的第一探询空间；(iii)设置为接受所述电磁辐射源发出的电磁辐射的第二探询空间；其中所述第二探询空间与所述第一探询空间流体连通，并且其中在第一探询空间和第二探询空间之间存在原动力，致使粒子能够在第一空间和第二探询空间之间移动；(iv)与第一探询空间可操作连接的第一电磁辐射检测器，用于测定粒子的第一电磁特征；(v)与第二探询空间可操作连接的第二电磁辐射检测器，用于至少测定粒子的第二电磁特征和粒子的第一电磁特征之一。
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