[发明专利]电子器件处理装置和不良端子确定方法无效
| 申请号： | 200580041108.4 | 申请日： | 2005-11-25 |
| 公开（公告）号： | CN101069100A | 公开（公告）日： | 2007-11-07 |
| 发明（设计）人： | 市川雅理 | 申请（专利权）人： | 株式会社爱德万测试 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01B11/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 李春晖 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 作为标准的电子器件的各个端子的标准位置信息被预先存储起来，由图像拍摄装置拍摄由传送装置保持的待测试电子器件的端子的图像，从被拍照的待测试电子器件的端子的图像数据中获取各个端子的位置信息，并且通过比较作为标准的电子器件的各个端子的标准位置信息和所获取的待测试电子器件的端子的位置信息，确定待测试电子器件的端子的缺失和/或排列位置缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 电子器件 处理 装置 不良 端子 确定 方法 | ||
【主权项】：
1.一种电子器件处理装置，用于将电子器件传送到接触部分并使其与该接触部分接触，以便测试该电子器件的电学属性，所述电子器件处理装置包括：用于存储作为标准的电子器件的各个端子的标准位置信息的存储设备；用于给待测试电子器件的端子拍照的图像拍摄装置；用于从由所述图像拍摄装置拍摄的待测试电子器件的端子的图像数据中获得各个端子的位置信息的端子位置信息获取装置；和不良端子确定装置，该装置通过从所述存储设备中读取作为标准的电子器件的各个端子的标准位置信息，并将读出的各个端子的标准位置信息与由所述端子位置信息获取装置获得的待测试电子器件的各个端子的位置信息进行比较，从而确定待测试电子器件的端子的缺失和/或排列位置缺陷。
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