[发明专利]用于通过结合探测和无接触整体测量而测量镜片的光焦度的方法和设备有效
| 申请号： | 200580041544.1 | 申请日： | 2005-11-24 |
| 公开（公告）号： | CN101069081A | 公开（公告）日： | 2007-11-07 |
| 发明（设计）人： | F·迪沃 | 申请（专利权）人： | 埃西勒国际通用光学公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 | 代理人： | 杨晓光;李峥 |
| 地址： | 法国*** | 国省代码： | 法国;FR |
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| 摘要： | 一种包括如下步骤的方法：无接触地光学测量在围绕镜片的测量点而限定的局部区域中所述镜片的至少一个折射光学特性的局部值的步骤；至少一个探测所述镜片的步骤，在此期间，确定在所述镜片的表面之一上的所述测量点的轴向位置；以及，将通过探测而获得的所述测量点的轴向位置与从所述无接触光学测量确定的在所述测量点的镜片的光学特性的局部值相比较，以便推导出在所述测量点的所述镜片的至少一个顶焦度。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 通过 结合 探测 接触 整体 测量 镜片 光焦度 方法 设备 | ||
【主权项】：
1.一种用于在测量点测量镜片的局部光焦度的方法，所述方法包括：无接触地光学测量在围绕所述镜片的所述测量点而限定的局部区域中所述镜片的至少一个折射光学特性的局部值的步骤，所述方法的特征在于，还包括：至少一个探测所述镜片的步骤，在此期间，确定在所述镜片的表面之一上的所述测量点的轴向位置；以及，将通过探测而获得的所述测量点的轴向位置与从所述无接触光学测量确定的在所述测量点的镜片的光学特性的局部值结合，以便推导出在所述测量点的所述镜片的至少一个顶焦度。
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