[发明专利]使用激光退火进行固相外延再结晶有效
申请号: | 200580042405.0 | 申请日: | 2005-10-19 |
公开(公告)号: | CN101076881A | 公开(公告)日: | 2007-11-21 |
发明(设计)人: | 阿米塔比·贾殷 | 申请(专利权)人: | 德州仪器公司 |
主分类号: | H01L21/336 | 分类号: | H01L21/336;H01L21/04 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 王允方;刘国伟 |
地址: | 美国得*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明揭示用于为MOS型晶体管制作浅且陡梯度的漏极延伸区的方法(70),其中在半导体产品的制造中,使用激光SPER退火工艺在漏极延伸区内进行固相外延再结晶。一种方法(70)包括预先非晶化工艺(74),所述预先非晶化工艺(74)包括以下步骤:将诸如锗等重离子物质深深植入衬底的与所述衬底的沟道区邻接的延伸区内,以形成深的非晶区;然后将硼或另一种这样的掺杂物质植入所述衬底的与沟道区邻接的延伸区内。然后在低温下对所植入的掺杂剂进行预退火(78),以设定结深和掺杂浓度。随后使用激光在高温下对所述延伸区及/或深源极/漏极区进行退火(84),由此在贴近沟道区的区内提供固相外延再结晶,以便以陡梯度获得超高掺杂浓度和活化水平。 | ||
搜索关键词: | 使用 激光 退火 进行 外延 再结晶 | ||
【主权项】:
1、一种在MOS晶体管内制作漏极延伸区的方法,其包括:将重离子物质植入衬底的与所述衬底的沟道区相邻接的延伸区内,以形成非晶区;将掺杂物质植入所述衬底的与所述沟道区相邻接的所述延伸区内;使用低温预退火工艺在低于所述衬底的再结晶温度的温度下对所述延伸区内的所述植入掺杂物质进行退火,以设定结深和掺杂浓度;及使用激光对所述延伸区进行退火,以活化大致上整个所述漏极延伸区中的所述掺杂物质。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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