[发明专利]检查背光单元的装置有效
| 申请号： | 200580042527.X | 申请日： | 2005-12-09 |
| 公开（公告）号： | CN101076720A | 公开（公告）日： | 2007-11-21 |
| 发明（设计）人： | 李吉宰;金玑贤 | 申请（专利权）人： | 株式会社MACRON |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 寿宁 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明提供一种检查一背光单元的装置。在一安装单元上安装一背光单元。一照明单元(lighting unit)辐射均匀光，前述均匀光具有进入前述背光单元且经由前述背光单元内的一光径穿过前述背光单元的薄膜而至前述背光单元的该强度，且前述照明单元允许前述背光单元具有一对应于一点亮状态的状态。一影像拍摄单元(image pickup unit)拍摄在前述背光单元的表面上的一检查区域的一相片，前述检查区域具有对应于由辐射自前述照明单元的光所造成的前述点亮状态的前述状态，且前述影像拍摄单元获得一检查目标影像(inspection target unit)。一影像处理单元(image processing unit)基于输入自前述影像拍摄单元的前述检查目标影像侦测前述背光单元的一缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 检查 背光 单元 装置 | ||
【主权项】：
1.一种检查背光单元的装置，其特征在于包含：一安装单元，其上安装一背光单元；一照明单元，其辐射均匀光，前述均匀光具有进入前述背光单元且经由前述背光单元内的一光径穿过前述背光单元的一薄膜而至前述背光单元的该强度，且前述照明单元允许前述背光单元具有一对应于一点亮状态的状态；一影像拍摄单元，其拍摄在前述背光单元的表面上的一检查区域的一相片，前述检查区域具有对应于由辐射自前述照明单元的光所造成的前述点亮状态的前述状态，且前述影像拍摄单元获得一检查目标影像；以及一影像处理单元，其基于由前述影像拍摄单元输入的前述检查目标影像而侦测前述背光单元的一缺陷。
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