[发明专利]确定磁性粒子空间分布的方法

摘要

本发明涉及一种确定检查区中磁性粒子空间分布的方法，其中产生具有较低磁场强度的第一子区和较高磁场强度的第二子区的磁场。改变两个子区的位置，从而引起检查区中粒子磁化强度的改变。获取基于检查区中磁化强度的测量值。参考响应函数可以通过至少一个大范围磁性样本分布来确定，利用该函数可以根据磁性粒子的空间分布在数学上确定测量值。最后，利用参考响应函数从测量值对磁性粒子空间分布进行重构。

主权项

1.一种确定检查区中磁性粒子(102)的空间分布的方法，具有以下步骤a)通过下述步骤产生测量值-在空间中产生具有磁场强度图形的第一磁场，以便在检查区中产生较低磁场强度的第一子区(301)和较高磁场强度的第二子区(302)，-改变检查区中两个子区(301，302)的空间位置，因而引起粒子(102)磁化强度的局部变化，-获取基于检查区磁化强度的测量值，其受两个子区(301，302)位置改变的影响，b)提供参考响应函数，利用该函数可以根据磁性粒子的空间分布在数学上确定测量值，通过至少一个大范围磁性样本分布(81)来确定参考响应函数，c)利用提供的参考响应函数，从测量值对检查区中磁性粒子的空间分布进行重构。