[发明专利]用于电气接触改进的真空环设计无效
| 申请号： | 200580043700.8 | 申请日： | 2005-11-03 |
| 公开（公告）号： | CN101084443A | 公开（公告）日： | 2007-12-05 |
| 发明（设计）人： | D·J·加西亚;J·L·菲什;金京英 | 申请（专利权）人： | 电子科学工业公司 |
| 主分类号： | G01R31/01 | 分类号： | G01R31/01;B07C5/344 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人： | 赵蓉民 |
| 地址： | 美国俄*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明采用凹部(72)，表面轮廓，触点尖部改进(52)，和/或确保测试板(5)的底表面(50)和电气触点的顶表面(52)之间压紧的其他方法来增强电气触点的顶表面(52)的清洁，从而改进DUT测量的可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 电气 接触 改进 真空 设计 | ||
【主权项】：
1.一种用于清洁电气元件操纵器中的电气触点的顶表面的方法，该电气元件操纵器包括真空板，该真空板具有在一个平面内的上表面，该上表面支撑带有用于保持所述电气元件的元件座的测试板，该元件座用于保持所述电气元件，所述真空板或测试板具有形成于其中的真空通道，所述真空板具有触点孔，各电气触点可通过该触点孔延伸，从而电气触点的顶表面通常在所述真空板上表面的平面内，且所述测试板的底表面适于跨所述真空板的上表面滑动，所述方法包括：在触点孔邻近的所述真空板的上表面提供凹部；以及在所述测试板的底表面滑过所述真空板的上表面时，贴着所述电气触点的顶表面对所述测试板的底表面施压。
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