[发明专利]用于晶片级包装中光刻胶剥离和残留物去除的组合物和方法无效

专利信息
申请号: 200580045567.X 申请日: 2005-10-28
公开(公告)号: CN101116178A 公开(公告)日: 2008-01-30
发明(设计)人: W·M·李 申请(专利权)人: EKC技术公司
主分类号: H01L21/3213 分类号: H01L21/3213;C11D11/00;C11D7/32
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 刘锴;邹雪梅
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 公开了用于从互联、晶片级包装、和印刷电路板基底中除去光刻胶、聚合物、蚀刻后残余物、和氧灰化后残留物的改进的组合物和方法。一种方法,其包括使该基底与含有效量的有机铵化合物、约2~约20wt%的氧代铵化合物、任选的有机溶剂、和水的混合物接触。
搜索关键词: 用于 晶片 包装 光刻 剥离 残留物 去除 组合 方法
【主权项】:
1.一种用于从其上存在电路或部分电路的晶片级包装基材、印刷电路板、或者二者中除去聚合物、蚀刻残留物、灰化残留物、或其组合的组合物,该组合物包含:具有下式的有机铵化合物:其中,X为氢氧化物、硫酸盐、硫酸氢盐、磷酸盐、磷酸氢盐、磷酸二氢盐、硝酸盐、羧酸盐、卤化物、碳酸盐、碳酸氢盐、二氟化合物、或其组合,R1为烷基或者衍生自叔胺与有机环氧化物的反应的基团,和R2、R3、和R4各自不为氢,且独立地为烷基、苄基、羟基烷基、苯基、衍生自叔胺与有机环氧化物的反应的基团、或者叔胺中所含的另一基团;大于约2wt%的具有下式的氧代铵(oxoammonium)化合物:其中,X为氢氧化物、硫酸盐、硫酸氢盐、磷酸盐、磷酸氢盐、磷酸二氢盐、硝酸盐、羧酸盐、卤化物、碳酸盐、碳酸氢盐、二氟化合物、或其组合,每个R5独立地为氢、取代的C1-C6直链、支化、或环状烷基、链烯基、炔基,取代的酰基,直链或支化的烷氧基、酰胺基(amidyl)、羧基、烷氧基烷基、烷基氨基、烷基磺酰基、或磺酸基,苯基,取代的苯基,芳基,取代的芳基,或者其盐或衍生物,和每个R6和R7独立地为氢、羟基、取代的C1-C6直链、支化、或环状烷基、链烯基、炔基,取代的酰基,直链或支化的烷氧基、酰胺基(amidyl)、羧基、烷氧基烷基、烷基氨基、烷基磺酰基、或磺酸基,苯基,取代的苯基,芳基,取代的芳基,或者其盐或衍生物;和水,其中,该组合物能够从基底中除去聚合物、蚀刻残留物、灰化残留物、或其组合,同时保持与该基底相关联的电路、或其一部分的可操作性。
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