[发明专利]检测样品与参照物的物理可测特性之间的差异的高灵敏度方法无效

专利信息
申请号: 200580047096.6 申请日: 2005-12-21
公开(公告)号: CN101107509A 公开(公告)日: 2008-01-16
发明(设计)人: R·森斯;E·蒂尔 申请(专利权)人: 巴斯福股份公司
主分类号: G01N17/00 分类号: G01N17/00;G01J3/50
代理公司: 北京市中咨律师事务所 代理人: 杨晓光;李峥
地址: 德国路*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及一种检测样品P和参照物R的物理可测特性之间的差异的高灵敏度方法,其特征在于进行如下步骤:(i)提供样品P,(ii)提供参考样品R,(iii)提供二维参考场RF,(iv)从所述参考样品R和参考场RF的区域形成第一二维图形,并且从所述样品P和参考场RF的区域形成第二二维图形,所述第一和第二图形以位置相关和波长相关的图形函数M(x,y,λ)描述,(v)在可自由选择的时间t0对所述第一图形,以及在时间t对所述第二图形,通过检测器将所述第一图形和第二图形对分析辐射的透射、反射或散射分别检测为第一和第二图形的局部坐标(x,y)和分析辐射的波长λ的函数,从而确定所述第一图形的第一图形响应函数M0(x,y,λ,t0),其包括参考响应函数R0(x,y,λ,t0)的物理分割区和第一参考场响应函数RF0(x,y,λ,t0)的物理分割区,并确定第二图形的第二图形响应函数Mt(x,y,λ,t),其包括样品响应函数Pt(x,y,λ,t)的物理分割区和第二参考场响应函数RFt(x,y,λ,t)的物理分割区,每种情况下的函数M0和Mt将透射、反射或散射分析辐射的强度分别再现为在不同检测时间t0和t的第一和第二图形的局部坐标(x,y)和波长λ的函数,(vi)以如下方式校正样品响应函数Pt,即通过所述第一和第二参考场响应函数RF0和RFt,从所述样品响应函数Pt消除检测器引起的位置相关、时间相关以及波长相关的起伏,从而获得校正样品响应函数Pt,corr,(vii)从所述校正样品响应函数Pt,corr和参考响应函数R0确定物理可测特性的变化。
搜索关键词: 检测 样品 参照物 物理 特性 之间 差异 灵敏度 方法
【主权项】:
1.一种检测样品P和参考样品R的物理可测特性之间的差异的方法,其中(i)提供样品P,(ii)提供参考样品R,(iii)提供二维参考场RF,(iv)从所述参考样品R和参考场RF的区域形成第一二维图形,并且从所述样品P和参考场RF的区域形成第二二维图形,所述第一和第二图形以位置相关和波长相关的图形函数M(x,y,λ)描述,(v)在可自由选择的时间t0对所述第一图形,以及在时间t对所述第二图形,通过检测器将所述第一图形和第二图形对分析辐射的透射、反射或散射分别检测为第一和第二图形的局部坐标(x,y)和分析辐射的波长λ的函数,从而确定所述第一图形的第一图形响应函数M0(x,y,λ,t0),其包括参考响应函数R0(x,y,λ,t0)的物理分割区和第一参考场响应函数RF0(x,y,λ,t0)的物理分割区,并确定第二图形的第二图形响应函数Mt(x,y,λ,t),其包括样品响应函数Pt(x,y,λ,t)的物理分割区和第二参考场响应函数RFt(x,y,λ,t)的物理分割区,每种情况下的函数M0和Mt将透射、反射或散射分析辐射的强度分别再现为在不同检测时间t0和t的第一和第二图形的局部坐标(x,y)和波长λ的函数,(vi)以如下方式校正样品响应函数Pt,即通过所述第一和第二参考场响应函数RF0和RFt,从所述样品响应函数Pt消除检测器引起的位置相关、时间相关以及波长相关的起伏,从而获得校正样品响应函数Pt,corr,(vii)从所述校正样品响应函数Pt,corr和参考响应函数R0确定物理可测特性的变化。
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