[发明专利]半导体集成电路和系统LSI无效
| 申请号： | 200580047365.9 | 申请日： | 2005-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN101111776A | 公开（公告）日： | 2008-01-23 |
| 发明（设计）人： | 前田恭辉;前田俊则 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/3187 | 分类号： | G01R31/3187 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 | 代理人： | 季向冈 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 将具有输入/输入输出接片(103)、开关(105)、期望值生成电路(13)的测试期望值编程电路(100)设于半导体集成电路(11)的内部，其中输入/输入输出接片(103)从连接在半导体集成电路(11)上的接地端子(30)或电源端子(31)输入接地/电源信号(104)；开关(105)选择性地切换经由该输入/输入输出接片(103)所输入的接地/电源信号(104)的输出；测试期望值生成电路(13)根据从开关(105)所输出的开关输出信号(122)生成测试期望值信号(21)。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 集成电路 系统 lsi | ||
【主权项】：
1.一种半导体集成电路，内置有作为测试对象的被测试电路，其特征在于：其具有用于生成用来与上述被测试电路的测试结果进行比较的测试期望值信号的测试期望值编程装置，其中，上述测试期望值编程装置具有：输入/输入输出接片，用于从连接在上述半导体集成电路上的接地端子或电源端子输入测试所需要的预定的输入信号；切换开关，连接在上述输入/输入输出接片上，用于选择性地切换经由该输入/输入输出接片而输入的上述信号的输出状态；以及期望值生成电路，用于根据从上述开关输出的输出信号来生成上述测试期望值信号。
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