[发明专利]半透明叠层膜、光掩模坯料、光掩模及其制造方法有效
申请号: | 200610001086.5 | 申请日: | 2006-01-16 |
公开(公告)号: | CN1815361A | 公开(公告)日: | 2006-08-09 |
发明(设计)人: | 吉川博树;稻月判臣;木名濑良纪;冈崎智;森田元彦;佐贺匡 | 申请(专利权)人: | 信越化学工业株式会社;凸版印刷株式会社 |
主分类号: | G03F1/00 | 分类号: | G03F1/00 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 | 代理人: | 杨宏军 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 半透明叠层膜12具有第1半透明膜13和第2半透明膜14的叠层结构,对上述半透明膜的膜厚d、对曝光光的折射率n及消光系数k进行设计,使其一为相位超前膜,另一为相位滞后膜。使相位超前膜的膜厚(nm)为d(+)、折射率为n(+)、消光系数为k(+),使相位滞后膜的膜厚为d(-)、折射率为n(-)、消光系数为k(-)时,进行设计,使相位超前膜为k (-)>a1·n(-) +b1,使相位滞后膜为k (-)<a2·n(-) +b2。系数a及b为a1=0.113·d (+)+0.774,b1=-0.116·d(+)-0.281,a2=0.113·d (-) +0.774,b2=-0.116·d(-)-0.281。 | ||
搜索关键词: | 半透明 叠层膜 光掩模 坯料 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种半透明叠层膜,其特征为,该膜是由使透射到膜中的光的相位与在空气中传播时相比超前的相位超前膜和使透射到膜中的光的相位与在空气中传播时相比滞后的相位滞后膜叠层而成的。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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