[发明专利]自动测试装置校准因子的递增产生有效
| 申请号： | 200610001187.2 | 申请日： | 2006-01-13 |
| 公开（公告）号： | CN1804648A | 公开（公告）日： | 2006-07-19 |
| 发明（设计）人： | 周正容;麦克·米欧赫姆 | 申请（专利权）人： | 安捷伦科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 王怡 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明公开了用于产生自动测试装置的校准数据的方法。在一个实施例中，接收到对自动测试装置(ATE)执行校准过程的请求。该请求与校准参数集合相关联。在接收到该请求之后，对应于校准参数集合的校准数据的一个或多个签名被导出，并且判断对应于所述一个或多个签名的校准数据是否已经产生。随后，产生校准数据的递增集合，其中所产生的校准数据i)对应于所述一个或多个签名，但是ii)还未产生。在另一实施例中，接收到对ATE执行校准过程的请求，并且该请求与指定的测试设置相关联。然后产生对应于所述指定的测试设置的校准数据的递增集合。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 测试 装置 校准 因子 递增 产生 | ||
【主权项】：
1.一种用于产生自动测试装置的校准数据的方法，包括：接收对所述自动测试装置执行校准过程的请求，所述请求与校准参数集合相关联；导出用于与所述校准参数集合相对应的校准数据的一个或多个签名；判断对应于所述一个或多个签名的校准数据是否已经产生；以及产生以下校准数据的递增集合，所述校准数据i)对应于所述一个或多个签名，但是ii)还未产生。
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