[发明专利]三维集成电路装置以及集成电路基板的对准方法有效

专利信息
申请号: 200610001613.2 申请日: 2006-01-13
公开(公告)号: CN1893012A 公开(公告)日: 2007-01-10
发明(设计)人: 陈学忠;罗吉进;范淑贞 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L21/68 分类号: H01L21/68;H01L25/065;H01L25/18;H01L25/00;H01L23/544
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所 代理人: 刘新宇
地址: 台湾省新竹科学*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种三维集成电路装置以及集成电路基板的对准方法,该集成电路基板的对准方法,包括:提供一第一基板,上述第一基板具有一第一正面、一第一背面以及一第一对准标记,第一正面具有多个第一集成电路结构,第一对准标记形成于第一正面或第一背面。提供一第二基板,上述第二基板具有一第二正面、一第二背面以及一第二对准标记,第二正面具有多个第二集成电路结构,第二对准标记形成于第二正面或者第二背面。提供一第一光学感测器以及一第二光学感测器,分别感测第一、第二对准标记进而对准第一、第二基板,其中第一、第二对准标记是面朝相反方向,并分别正对于第一、第二光学感测器。本发明具有较佳的准确度,且可减少不必要的制程步骤。
搜索关键词: 三维集成电路 装置 以及 集成 路基 对准 方法
【主权项】:
1.一种集成电路基板的对准方法,其特征在于,所述集成电路基板的对准方法包括:提供一第一基板,该第一基板具有一第一正面、一第一背面以及一第一对准标记,其中该第一正面具有多个第一集成电路结构,且该第一对准标记是形成于该第一正面或者该第一背面;提供一第二基板,该第二基板具有一第二正面、一第二背面以及一第二对准标记,其中该第二正面具有多个第二集成电路结构,且该第二对准标记是形成于该第二正面或者该第二背面;以及提供一第一光学感测器以及一第二光学感测器,用以分别感测该第一、第二对准标记进而对准该第一、第二基板,其中该第一、第二对准标记是面朝相反方向,并分别正对于该第一、第二光学感测器。
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