[发明专利]随机存储器失效的检测处理方法及其系统有效
| 申请号： | 200610001749.3 | 申请日： | 2006-01-25 |
| 公开（公告）号： | CN1851826A | 公开（公告）日： | 2006-10-25 |
| 发明（设计）人： | 李强 | 申请（专利权）人： | 华为技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00;G06F11/28 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 | 代理人： | 郭润湘 |
| 地址： | 518129广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种RAM失效的检测处理方法，应用于对CPU/DSP的RAM失效的检测处理，包括：读取所述RAM中的程序内容；将读取的程序内容与正确的程序内容进行比对，当两者不一致时，判断RAM失效并进行数据修复；或者将读取的程序内容采用设定的校验方法进行数据校验，并与正确的校验结果进行比对，当两者不一致时，判断RAM失效并报警。采用本发明方法，可及时检测CPU/DSP RAM失效的情况，及时采取相应的处理措施，将RAM失效引起的影响降到最低。 | ||
| 搜索关键词： | 随机 存储器 失效 检测 处理 方法 及其 系统 | ||
【主权项】：
1、一种随机存储器RAM失效的检测处理方法，应用于对中央处理器CPU/数字信号处理器DSP的RAM失效的检测处理，该方法包括：A、读取所述RAM中的程序内容；B、将读取的程序内容与正确的程序内容进行比对，当两者不一致时，判断所述RAM失效并进行数据修复；或者将读取的程序内容采用设定的校验方法进行数据校验，并与正确的校验结果进行比对，当两者不一致时，判断所述RAM失效并报警。
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