[发明专利]自发光装置、粘滞现象校正方法、装置和程序有效
| 申请号： | 200610001971.3 | 申请日： | 2006-01-23 |
| 公开（公告）号： | CN1808545A | 公开（公告）日： | 2006-07-26 |
| 发明（设计）人： | 小泽淳史;多田满 | 申请（专利权）人： | 索尼株式会社 |
| 主分类号： | G09G3/30 | 分类号： | G09G3/30;G09G3/20;H05B33/14;G09F9/30 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 董方源 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明公开了一种自发光装置，其中可以在使用自发光装置的同时准确地校正不同像素之间的恶化量差以校正粘滞现象。在自发光装置中，首先利用从像素的灰度值导出的恶化率来计算校正目标像素和参考像素之间在第一光发射时间段内出现的恶化量差。然后，利用参考像素的恶化率导出在第二光发射时间段内消除计算出的恶化量差所必需的校正目标像素的校正用恶化率。其后，将所导出的校正用恶化率转换为对应的灰度值，然后以转换后的灰度值驱动校正目标像素发光。 | ||
| 搜索关键词： | 发光 装置 现象 校正 方法 程序 | ||
【主权项】：
1.一种用于在自发光装置处于使用状态时校正所述自发光装置的粘滞现象的粘滞现象校正方法，在所述自发光装置中多个自发光元件以矩阵形式排列，所述方法包括以下步骤：利用从像素的灰度值导出的恶化率来计算校正目标像素和参考像素之间在第一光发射时间段内出现的恶化量差；利用所述参考像素的恶化率，为所述校正目标像素导出在第二光发射时间段内消除计算出的恶化量差所必需的校正用恶化率；将所导出的校正用恶化率转换为对应的灰度值；以及以转换后的灰度值驱动所述校正目标像素发光。
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