[发明专利]用于加速风化试验设备的降温支架无效

专利信息
申请号: 200610002462.2 申请日: 2006-01-26
公开(公告)号: CN1815182A 公开(公告)日: 2006-08-09
发明(设计)人: D·R·韦布 申请(专利权)人: 阿特拉斯材料测试技术有限责任公司
主分类号: G01N17/00 分类号: G01N17/00;G12B15/00
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 史雁鸣
地址: 美国伊*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种用来将太阳辐射聚集在测试试样上的加速风化试验设备,包括:与目标板连接的支架,该支架包括:框架,所述框架由多个支座与目标板间隔开预定距离且具有至少一个限定在其中的开口;和透明元件,所述透明元件以一覆盖方向与至少一个开口的每一个对准地连接在所述框架上,从而将来自反射太阳能聚光器的太阳辐射入射在测试试样上。将所述预定距离设定成使得该框架用作偏向器的延伸部分,并且使测试试样的工作温度免于受到外部影响。
搜索关键词: 用于 加速 风化 试验 设备 降温 支架
【主权项】:
1.一种用来将太阳辐射聚集在测试试样上的加速风化试验设备,该设备包括有框架,该框架支撑着与支撑在风洞中的目标板相对地设置的反射太阳能聚光器,所述风洞具有偏向器以使气体在安装在目标板上的测试试样上循环,所述加速风化试验设备包括:与目标板连接的支架,该支架包括框架,所述框架由多个支座与目标板间隔开预定距离,并且具有至少一个限定在其中的开口、以及透明元件,所述透明元件以一覆盖方向与至少一个开口的每一个对准地连接到框架上,从而将来自反射太阳能聚光器的太阳辐射入射在测试试样上;其中,将所述预定距离设定成使得该框架用作偏向器的延伸部分,并且使测试试样的工作温度免于受到外部影响。
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