[发明专利]具有测试功能的半导体集成电路及制造方法无效
| 申请号： | 200610002790.2 | 申请日： | 2006-01-28 |
| 公开（公告）号： | CN1975934A | 公开（公告）日： | 2007-06-06 |
| 发明（设计）人： | 芹泽充男;山崎枢;山本雅文;加藤和雄 | 申请（专利权）人： | 株式会社瑞萨科技 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12;G11C29/44;G11C29/18 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 | 代理人： | 王茂华 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种逻辑集成电路包括具有预定逻辑功能的逻辑电路；读/写存储器电路；测试电路，用于测试存储器电路中是否包括失效位；和边界锁存器电路，由多个触发器电路形成，能够使所述逻辑电路与所述存储器电路之间的信号锁存，并且还形成一个移位寄存器。而且，该逻辑集成电路还设置有失效援救信息产生电路，用于在利用测试电路执行测试期间，将测试结果存储到边界锁存器电路，并且根据所存储的测试结果，产生失效援救信息，以救援所述存储器电路的失效。安装在逻辑集成电路上的测试电路能与内置存储器电路的测试并行地产生用于救援失效位的信息，并且还能向外部输出同一信息并援救芯片之内的RAM。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 测试 功能 半导体 集成电路 制造 方法 | ||
【主权项】：
1.一种半导体集成电路，包括：具有逻辑功能的逻辑电路；读/写存储器电路；测试电路，用于测试所述存储器电路中是否包括失效位；边界锁存器电路，由多个能够使所述逻辑电路与所述存储器电路之间的信号锁存的触发器电路形成，并且所述边界锁存器电路形成一个移位寄存器；和失效援救信息产生电路，其中在执行测试期间，在所述测试电路从所述边界锁存器电路收集测试结果的同时，所述失效援救信息产生电路根据所述测试结果产生失效援救信息，用于援救所述存储器电路的失效。
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