[发明专利]半导体纳米结构及其制作方法无效
申请号: | 200610003180.4 | 申请日: | 2006-02-22 |
公开(公告)号: | CN101026203A | 公开(公告)日: | 2007-08-29 |
发明(设计)人: | 陈振 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L31/08;H01L31/18 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 汤保平 |
地址: | 100083北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种半导体纳米结构,包括:一衬底作为半导体器件的承载体;一半导体缓冲层,通过外延生长技术形成在衬底上,起到缓冲衬底和其他层之间应力的作用;一半导体模板层,通过外延生长技术形成在半导体缓冲层上,作为支撑模板;一钝化层,通过表面钝化形成在半导体模板层上,起到提高吸附原子在表面迁移势垒的作用;一半导体诱导层,制作在钝化层上,起到促进半导体纳米岛形成的作用;一半导体纳米岛层,制作在半导体诱导层上,作为光电子器件的活性层;一半导体盖帽层,制作在半导体纳米岛层上,起到保护半导体纳米岛层,或者提供载流子的作用。 | ||
搜索关键词: | 半导体 纳米 结构 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
1.一种半导体纳米结构,其特征在于,该结构包括:一衬底,作为半导体器件的承载体;一半导体缓冲层,该半导体缓冲层通过外延生长技术形成在衬底上,起到缓冲衬底和其他层之间应力的作用;一半导体模板层,该半导体模板层通过外延生长技术形成在半导体缓冲层上,作为支撑模板;一钝化层,该钝化层通过表面钝化形成在半导体模板层上,起到提高吸附原子在表面迁移势垒的作用;一半导体诱导层,该半导体诱导层制作在钝化层上,起到促进半导体纳米岛形成的作用;一半导体纳米岛层,该半导体纳米岛层制作在半导体诱导层上,作为光电子器件的活性层;一半导体盖帽层,该半导体盖帽层制作在半导体纳米岛层上,起到保护半导体纳米岛层,或者提供载流子的作用。
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