[发明专利]像素结构的制作方法有效
申请号: | 200610003382.9 | 申请日: | 2006-02-07 |
公开(公告)号: | CN1828872A | 公开(公告)日: | 2006-09-06 |
发明(设计)人: | 李奕纬;朱庆云 | 申请(专利权)人: | 广辉电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/84 | 分类号: | H01L21/84;G02F1/136 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 任默闻 |
地址: | 台湾省*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种像素结构的制作方法,包括:在一基板上形成一第一导体层;利用一第一光掩膜图案化此第一导体层,以形成一栅极;在基板上形成一介电层,以覆盖栅极;在介电层上依序形成一半导体材料层与一第二导体层;利用一第二光掩膜图案化第二导体层,以形成一像素电极;再次利用第一光掩膜在基板上形成一图案化光刻胶层,以保护栅极上方的半导体材料层;以像素电极与图案化光刻胶层为掩膜图案化半导体材料层,以形成一半导体层;移除图案化光刻胶层;在基板上形成一第三导体层;利用一第三光掩膜图案化第三导体层,以形成一源极/漏极,其中漏极电性连接于像素电极。该方法节省了制作光掩膜的费用,缩短了像素结构的制作时间及成本,进而提供了生产良率。 | ||
搜索关键词: | 像素 结构 制作方法 | ||
【主权项】:
1.一种像素结构的制作方法,其特征在于包括:在一基板上形成一第一导体层;利用一第一光掩膜图案化所述第一导体层,以形成一栅极;在所述基板上形成一介电层,以覆盖所述栅极;在所述介电层上依序形成一半导体材料层与一第二导体层;利用一第二光掩膜图案化所述第二导体层,以形成一像素电极;利用所述第一光掩膜在所述基板上形成一图案化光刻胶层,以保护所述栅极上方的所述半导体材料层;以所述像素电极与所述图案化光刻胶层为掩膜图案化所述半导体材料层,以形成一半导体层;移除所述图案化光刻胶层;在所述基板上形成一第三导体层;以及利用一第三光掩膜图案化所述第三导体层,以形成一源极/漏极,其中所述漏极电性连接于所述像素电极。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造