[发明专利]非易失性存储器及其制造方法无效

专利信息
申请号: 200610004396.2 申请日: 2006-02-16
公开(公告)号: CN101022112A 公开(公告)日: 2007-08-22
发明(设计)人: 张格荥;黄宗正;黄彦宏 申请(专利权)人: 力晶半导体股份有限公司
主分类号: H01L27/115 分类号: H01L27/115;H01L29/788;H01L21/8247;H01L21/336;H01L21/28
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 陶凤波;侯宇
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明公开了一种非易失性存储器,包括基底、控制栅极、浮置栅极与选择栅极。基底中设置有源极区与漏极区。控制栅极设置于源极区与漏极区之间的基底上。浮置栅极设置于控制栅极与基底之间,浮置栅极的剖面如呈L型,包含垂直于基底的中央区与平行于基底的外围区,中央区与源极区相邻。选择栅极设置于控制栅极与浮置栅极的外围区侧壁,且选择栅极与漏极区相邻。另外,本发明还包括前述非易失性存储器的制造方法。
搜索关键词: 非易失性存储器 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种非易失性存储器,包括:第一存储单元,包括:基底,该基底中设置有源极区与漏极区;控制栅极,设置于该源极区与该漏极区之间的该基底上;浮置栅极,设置于该控制栅极与该基底之间,该浮置栅极包含垂直于该基底的中央区与平行于该基底的外围区,该中央区与该源极区相邻;以及选择栅极,设置于该控制栅极与该浮置栅极的该外围区侧壁,且该选择栅极与该漏极区相邻。
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