[发明专利]电子组件测试系统的万用型探针装置有效
| 申请号： | 200610004414.7 | 申请日： | 2006-02-10 |
| 公开（公告）号： | CN1821790A | 公开（公告）日： | 2006-08-23 |
| 发明（设计）人： | 张钦亮 | 申请（专利权）人： | 友达光电股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/073 | 分类号： | G01R1/073;G01R31/00;G09G3/00;G01M11/00;G02F1/13 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 魏晓刚;李晓舒 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种使用在电子组件测试系统的探针装置，“万用型”表示此探针装置可适用于各种不同的面板尺寸及组件布局。此探针装置包括一探针单元与一线路切换装置。探针单元包括支撑座与多探针，探针设置于支撑座上，用以对电子组件系统进行测试。线路切换装置用以使对应不同面板所需的探针与测试讯号源之间呈电性连接。 | ||
| 搜索关键词： | 电子 组件 测试 系统 万用 探针 装置 | ||
【主权项】：
1.一种电子组件系统测试的探针装置，适用于一电子组件系统的测试，至少包括：一探针单元，包括一支撑座与一第一数目的探针，该些探针设置于该支撑座上，用以对该电子组件系统进行测试；以及一线路切换装置，用以使一第二数目的该些探针与一第三数目的测试讯号源之间呈电性连接，其中该第二数目小于该第一数目，该第二数目不小于该第三数目。
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