[发明专利]磁性元件及磁性元件的制造方法无效
| 申请号： | 200610004572.2 | 申请日： | 2006-01-28 |
| 公开（公告）号： | CN1815641A | 公开（公告）日： | 2006-08-09 |
| 发明（设计）人： | 浦野裕一朗;目黑文仁;川畑良夫 | 申请（专利权）人： | 胜美达集团株式会社 |
| 主分类号： | H01F27/00 | 分类号： | H01F27/00;H01F41/00 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 汪惠民 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及一种磁性元件，其目的在于使磁性元件的各特性有稳定的温度特性。该磁性元件具备：通过卷绕导体形成的线圈(20)，由磁性材料构成、同时使线圈(20)产生的磁通通过的EP磁芯(12a、12b)，以及设置于EP磁芯(12a、12b)中相互对置的EP磁芯(12a、12b)之间、同时具备陶瓷材料或树脂材料而构成的固体部(16)；固体部(16)与相互对置的EP磁芯(12a、12b)的各对置面接触，同时该固体部(16)的厚度尺寸设置在大于等于3微米小于等于30微米的范围内。 | ||
| 搜索关键词： | 磁性 元件 制造 方法 | ||
【主权项】：
1.一种磁性元件，其特征在于，具备通过卷绕导体形成的线圈，由磁性材料构成、同时使上述线圈产生的磁通通过的多个磁芯构件，以及设置于上述多个磁芯构件中相互对置的磁芯构件之间、同时具备非磁性且为绝缘性材料而形成的温度特性调整部件；上述温度特性调整部件与对置的磁芯构件的各对置面接触，同时该温度特性调整部件的厚度尺寸设置在大于等于3微米小于等于30微米的范围内。
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