[发明专利]晶圆加工方法无效
申请号: | 200610004815.2 | 申请日: | 2006-01-11 |
公开(公告)号: | CN101000872A | 公开(公告)日: | 2007-07-18 |
发明(设计)人: | 褚福堂;钟启源;滕冀平 | 申请(专利权)人: | 日月光半导体制造股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/30 | 分类号: | H01L21/30 |
代理公司: | 上海开祺知识产权代理有限公司 | 代理人: | 费开逵 |
地址: | 中国台湾高雄*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种晶圆加工的方法,其包括如下步骤:(a)提供一晶圆,该晶圆具有一主动面及一背面;(b)在该晶圆的主动面上附着一平板状的基板;(c)研磨该晶圆的背面;(d)移除该平板状的基板;以及(e)切割该晶圆。藉此,可以避免晶圆加工过程中发生的翘曲现象。 | ||
搜索关键词: | 加工 方法 | ||
【主权项】:
1.一种晶圆加工方法,其首先(a)提供一晶圆,该晶圆具有一主动面及一背面;然后(c)研磨该晶圆的背面;再(e)切割该晶圆;其特征在于:该方法在步骤(a)和(c)之间,还包括步骤(b)在该晶圆的主动面附着一平板状的基板;以及在步骤(c)和(e)之间还包括步骤(d)移除该平板状的基板。
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
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