[发明专利]过电流检测装置有效
申请号: | 200610005081.X | 申请日: | 2006-01-17 |
公开(公告)号: | CN1808899A | 公开(公告)日: | 2006-07-26 |
发明(设计)人: | 大岛俊藏 | 申请(专利权)人: | 矢崎总业株式会社 |
主分类号: | H03K17/00 | 分类号: | H03K17/00;G01R19/165 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 杨林森;谷惠敏 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种过电流检测装置,用于检测负荷电路中的过电流,所述过电流检测装置包括:DC电源;负荷;半导体开关,其控制负荷的接通/断开;驱动器电路,其向半导体开关输出驱动信号;基准电压生成电路,其从DC电源生成基准电压;电压降生成电路,其包括用于生成电压降的电阻器,并且在所述用于生成电压降的电阻器中生成电压降;判定电压生成电路,其生成相应于通过将半导体开关接通时生成的电压降和用于生成电压降的电阻器中生成的电压降相加所获得的电压的作为判定电压的电压;以及比较电路,其将判定电压和基准电压相比较,并且当判定电压大于基准电压时,向驱动器电路输出半导体开关的断开命令信号。 | ||
搜索关键词: | 电流 检测 装置 | ||
【主权项】:
1.一种过电流检测装置,用于检测负荷电路中的过电流,所述过电流检测装置包括:DC电源;负荷;半导体开关,其控制所述负荷的接通/断开;驱动器电路,其向所述半导体开关输出驱动信号;基准电压生成电路,其生成基准电压;电压降生成电路,其包括用于生成电压降的电阻器,并且在所述用于生成电压降的电阻器中生成电压降;判定电压生成电路,其生成相应于通过将用于生成电压降的所述电阻器中生成的电压降和所述半导体开关接通时在通态电阻中生成的电压降相加所获得的电压的作为判定电压的电压;以及比较电路,其将所述判定电压和所述基准电压相比较,并且当所述判定电压大于所述基准电压时,向所述驱动器电路输出所述半导体开关的断开命令信号。
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