[发明专利]抗蚀剂显像液中碳酸盐的除去方法、除去装置、及抗蚀剂显像液的浓度控制方法无效

专利信息
申请号: 200610005718.5 申请日: 2006-01-06
公开(公告)号: CN1800990A 公开(公告)日: 2006-07-12
发明(设计)人: 梅枝孝道;北川悌也 申请(专利权)人: 长濑产业株式会社;长濑CMS科学技术株式会社
主分类号: G03F7/26 分类号: G03F7/26;G03F7/32;H01L21/027
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 王健
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明目的在于提供从含TMAH及碳酸盐的抗蚀剂显像液中除去碳酸盐的方法、装置及抗蚀剂显像液的浓度控制方法。本发明所述的抗蚀剂显像液中碳酸盐的除去方法包括利用NF膜过滤含TMAH及碳酸盐的抗蚀剂显像液的过滤工序。
搜索关键词: 抗蚀剂 显像 碳酸盐 除去 方法 装置 浓度 控制
【主权项】:
1.抗蚀剂显像液中的碳酸盐的除去方法,其特征在于包括利用NF膜过滤含氢氧化四甲铵及碳酸盐的抗蚀剂显像液的过滤工序。
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