[发明专利]半导体元件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 200610005891.5 申请日: 2006-01-19
公开(公告)号: CN101005066A 公开(公告)日: 2007-07-25
发明(设计)人: 陈文吉;陈东波;艾世强 申请(专利权)人: 力晶半导体股份有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L21/82
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 陶凤波;侯宇
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种半导体元件的制造方法。首先,提供基底。基底上具有切割线,将基底划分为至少一个芯片。于基底中形成沟槽,沟槽位于预定形成焊垫的区域或焊垫与切割线之间的区域。然后,于沟槽的侧壁及底部的基底中形成下电极,并于基底上形成电容介电层与上电极,上电极填满沟槽。之后,于基底中形成掺杂区电连接下电极。继之,于基底上形成第一焊垫与第二焊垫,下电极经由掺杂区电连接至第一焊垫,上电极电连接至第二焊垫。由于电容器形成于焊垫下方或焊垫与切割线之间的基底中,可减少所占用的芯片面积。
搜索关键词: 半导体 元件 及其 制造 方法
【主权项】:
1、一种半导体元件,包括:基底,该基底上具有多条切割线,将该基底划分为至少一芯片;多个焊垫,设置于该芯片的周边区域中;以及至少一沟槽式电容器,设置于该些焊垫下方或该些焊垫与该些切割线之间的区域,该沟槽式电容器包括:下电极,设置于该基底中的沟槽的侧壁及底部;上电极,设置于该基底上并填满该沟槽;以及电容介电层,设置于该上电极与该下电极之间,其中该下电极电连接至第一焊垫,该上电极电连接至第二焊垫。
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