[发明专利]晶片级封装和切割的方法无效

专利信息
申请号: 200610006064.8 申请日: 2006-01-24
公开(公告)号: CN101009231A 公开(公告)日: 2007-08-01
发明(设计)人: 王顺达 申请(专利权)人: 探微科技股份有限公司
主分类号: H01L21/50 分类号: H01L21/50
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 陶凤波;侯宇
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明公开了一种晶片级封装和切割的方法。所述方法首先提供包含多个腔体的封装晶片,并形成多条未贯穿该封装晶片的沟槽于所述腔体间。接着将该封装晶片与元件晶片接合,并使各所述腔体与该元件晶片分别形成气密视窗。随后进行切割工艺,并移除该封装晶片未与该元件晶片结合的部分结构,形成晶片级封装结构。最后分割该晶片级封装结构,形成多个独立的封装管芯。
搜索关键词: 晶片 封装 切割 方法
【主权项】:
1.一种晶片级封装切割方法,包含:提供一封装晶片,所述封装晶片的上表面包含多个腔体;由所述封装晶片的所述上表面进行预切割工艺,在所述封装晶片的所述腔体间形成多条沟槽,其中所述沟槽未贯穿所述封装晶片,且所述沟槽与所述腔体之间形成多个间隔壁;提供元件晶片,所述元件晶片的表面包含有多个元件及多个连接垫;接合所述封装晶片的所述间隔壁与所述元件晶片;以及由所述封装晶片的下表面沿所述沟槽进行切割工艺,移除未与所述元件晶片接合的所述封装晶片,使所述元件晶片的所述连接垫外露,而形成晶片级封装结构。
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