[发明专利]集成电路静态参数的测量装置

摘要

本发明涉及一种集成电路静态参数的测量装置，用于对待测集成电路作静态测试，其中包括：模式选择开关；主控单元；电流取样单元；电压取样单元；比较单元；逻辑判断单元；及反馈选择开关。该测量装置在测量时，可以自动根据集成电路的负载，决定以何种输出模式到集成电路。该测量装置工作在电压输出模式时自动对电流值设限，并且，工作在电流输出模式时自动对电压值设限，以稳定工作电压与工作电流的范围。本发明的测量装置根据稳定工作电压与工作电流的范围，在待测集成电路发生故障时，得以自我保护，同时不会危及到待测集成电路。

主权项

1.一种集成电路静态参数的测量装置，用于对待测集成电路作静态测试，其特征在于包括：模式选择开关，接收至少一个限制信号，并且根据模式选择信号以输出该至少一个限制信号之一；主控单元，根据该至少一个限制信号之一，以提供测试信号给该待测集成电路；电流取样单元，采集流过该待测集成电路的电流，以及输出电流取样信号；电压取样单元，采集该待测集成电路上的电压，以及输出电压取样信号；比较单元，将该电流取样信号与该电压取样信号对该至少一个限制信号进行比较运算，以及输出逻辑信号；逻辑判断单元，接收该逻辑信号，以及输出该模式选择信号；及反馈选择开关，连接于该主控单元、该电流取样单元及该电压取样单元，该反馈选择开关根据该模式选择信号，输出该电流取样信号与该电压取样信号之一。