[发明专利]红外线固体摄像装置及其制造方法有效
申请号: | 200610006332.6 | 申请日: | 2006-01-13 |
公开(公告)号: | CN1828948A | 公开(公告)日: | 2006-09-06 |
发明(设计)人: | 太田泰昭;上野雅史 | 申请(专利权)人: | 三菱电机株式会社 |
主分类号: | H01L31/08 | 分类号: | H01L31/08;H01L27/146;H01L31/18;H01L21/82 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 王以平 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 在现有的由PN结二极管检测红外线的红外线固体摄像装置中,在包围PN结二极管的氧化膜的界面上存在界面陷阱,所以由于导电的载流子的产生-复合而产生噪声。本发明提供一种红外线固体摄像装置,将构成PN结二极管的半导体层的杂质分布设定为使从所述半导体层的中央部分流过半导体层的导电载流子比其外围部分多的不均匀状态。因此与现有的结构相比,在半导体层周围的半导体/氧化物界面上的导电载流子的产生-复合减少,从而减小了PN结二极管的噪声。 | ||
搜索关键词: | 红外线 固体 摄像 装置 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种红外线固体摄像装置,其特征在于,包括:在硅衬底上具有氧化硅膜层和SOI层的SOI衬底;具有在所述SOI衬底上形成的PN结二极管的检测部分,该检测部分将由入射的红外线所产生的温度变化变换为电信号;和保持所述检测部分以使该检测部分与所述硅衬底隔开的支持体,构成所述PN结二极管的半导体层的杂质分布为使流过所述半导体层的载流子在该半导体层中央部分比其外围部分多的不均匀状态。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
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H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的