[发明专利]反射率测定装置

摘要

一种反射率测定装置，即使被载置于微芯片上的被测定部位(试纸)被透明构件所覆盖，而被测定部位上的检体量是μl量级的微量的情况下，仍可获得良好的检出灵敏度。该反射率测定装置，具备将在特定波长具有指向性的光予以出射的光放出部(7、8)与受光部(9)，在微芯片(1)的被测定部位(4)上照射来自光放出部(7、8)的光，以受光部(9)来接受来自被测定部位(4)的反射光，以测定被测定部位(4)的反射率，其特征为，是将微芯片(1)的被测定部位(4)以透明构件(6)覆盖的构造，即，光放出部(7、8)配置在被测定部位(4)的正上方，来自光放出部(7、8)的照射区域被收敛在被测定部位(4)内，在包含光放出部(7、8)的发光中心点而垂直于微芯片(1)的假想面上，对于被测定部位(4)的照射区域的端部上的法线，令反射光所形成的角度为θ(°)，令被测定部位正上方所配置的光放出部(7、8)所放射出来的光的扩张角为α(°)，令透明构件(6)的折射率为n时，受光部(9)配置在满足(1/2)α≤θ≤sin^－1 (1/n)的关系的角度范围θ内。

主权项

1.一种反射率测定装置，具备将在特定波长具有指向性的光予以出射的光放出部与受光部，在微芯片的被测定部位上照射来自所述光放出部的光，以所述受光部来接受来自所述被测定部位的反射光，以测定所述被测定部位的反射率，其特征为，是将所述微芯片的所述被测定部位以透明构件覆盖的构造，即，所述光放出部配置在所述被测定部位的正上方，来自所述光放出部的照射区域被收敛在所述被测定部位内，在包含所述光放出部的发光中心点而垂直于所述微芯片的假想面上，对于所述被测定部位的所述照射区域的端部上的法线，令所述反射光所形成的角度为θ(°)，令所述被测定部位正上方所配置的所述光放出部所放射出来的光的扩张角为α(°)，令所述透明构件的折射率为n时，所述受光部配置在满足(1/2)α≤θ≤sin-1(l/n)的关系的角度范围θ内。