[发明专利]检查探针、光学屏的检查装置、光学屏的检查方法无效
| 申请号： | 200610006709.8 | 申请日： | 2006-02-05 |
| 公开（公告）号： | CN1815304A | 公开（公告）日： | 2006-08-09 |
| 发明（设计）人： | 山岸英一;前田晃利 | 申请（专利权）人： | 精工爱普生株式会社 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G01R31/00;G01R1/00;G09F9/30 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 汪惠民 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种检查探针，在对数据线(22)的引出部(24)压接基板(210)时，在与数据线(22)的引出方向交叉的方向具有给定长度，并且在数据线(22)的引出方向具有给定间隔，设置多个布线部(300)。在布线部(300)中以给定间隔设置接触部(350)。接触部(350)在数据线(22)的引出部(24)中，在布线部(300)与数据线(22)交叉的状态下，从数据线(22)上压接时，与每隔给定间隔的数据线(22)接触，取得数据线(22)和布线部(300)的导通。 | ||
| 搜索关键词： | 检查 探针 光学 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种检查探针，是在布设有多个信号线、并且在引出所述信号线的引出部所述信号线以彼此大致平行的状态配置的电子机器的特性检查中，暂时连接在所述信号线上的检查探针，包括：基板；布线部，其设置在所述基板上，当对所述信号线的引出部压接该基板时，在与所述信号线的引出方向交叉的方向上具有给定长度，并且在所述信号线的引出方向设置多个；以及接触部，其在所述布线部中以给定间隔设置，在所述信号线的引出部，当所述布线部以与所述信号线交叉的状态从所述信号线的上方压接时，与能输入同一检查信号的所述信号线接触，取得所述信号线与所述布线部的导通。
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