[发明专利]薄膜晶体管阵列基板的制造方法有效
申请号: | 200610007372.2 | 申请日: | 2006-02-13 |
公开(公告)号: | CN1828873A | 公开(公告)日: | 2006-09-06 |
发明(设计)人: | 李佳宗 | 申请(专利权)人: | 广辉电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/84 | 分类号: | H01L21/84;H01L21/768 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 任默闻 |
地址: | 台湾省*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种薄膜晶体管阵列基板的制造方法。在基板上形成多条扫描配线。在基板上依序形成图案化介电层与图案化半导体层,以覆盖部分扫描配线。在基板上依序形成图案化透明导电层与图案化金属层,以定义出多条数据配线、多个源极/漏极、多个像素电极与多个刻蚀保护层。刻蚀保护层分别包覆未被图案化介电层与图案化半导体层覆盖而曝露的扫描配线,并与扫描配线电性并联。在基板上形成保护层。移除像素电极上方的保护层与像素电极的图案化金属层,以曝露出图案化透明导电层,并且同时移除刻蚀保护层与数据配线之间的扫描配线上方的图案化半导体层,以暴露出图案化介电层。 | ||
搜索关键词: | 薄膜晶体管 阵列 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种薄膜晶体管阵列基板的制造方法,其特征在于包括:在一基板上形成多条扫描配线;在所述基板上依序形成一图案化介电层与一图案化半导体层,以覆盖部分这些扫描配线;在所述基板上依序形成一图案化透明导电层与一图案化金属层,而所述图案化透明导电层与所述图案化金属层区定义出多条数据配线、多个源极/漏极、多个像素电极与多个刻蚀保护层,其中所述刻蚀保护层分别包覆未被所述图案化介电层与所述图案化半导体层覆盖而曝露的所述扫描配线,且所述刻蚀保护层分别与所述扫描配线电性并联;在所述基板上形成一保护层;以及移除所述像素电极上方的保护层与所述像素电极的图案化金属层,以曝露出所述像素电极的图案化透明导电层,并且同时移除所述刻蚀保护层与所述数据配线之间的所述扫描配线上方的图案化半导体层,以曝露出所述扫描配线上方的图案化介电层。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于广辉电子股份有限公司,未经广辉电子股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200610007372.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:专利分析系统
- 下一篇:功能性农业用布及制作方法
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造