[发明专利]半导体激光近、远场分布观测装置无效
| 申请号： | 200610007505.6 | 申请日： | 2006-02-13 |
| 公开（公告）号： | CN1821798A | 公开（公告）日： | 2006-08-23 |
| 发明（设计）人： | 王晓华;王勇;赵英杰;姜晓光;刘波 | 申请（专利权）人： | 长春理工大学 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01N21/84;H01L33/00 |
| 代理公司： | 中国兵器工业集团公司专利中心 | 代理人： | 曲博 |
| 地址： | 130022吉林*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 半导体激光近、远场分布观测装置属于半导体激光器器件测试技术领域。现有技术是将激光近、远场分布光斑转换为电信号后进行测试，缺乏直观性；另外，在远场分布测试上缺乏确定的方案，在列阵芯片测试方面手段欠便捷，效率低。本发明采用光学透镜系统和变像管这两个主要观测部件，并可构成两种工作状态，从而可以通过肉眼直接观测，包括单芯、阵列芯片的近、远场分布。本发明可应用半导体物理的教学和科研领域，还可以应用于半导体激光器器件的生产领域。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 激光 分布 观测 装置 | ||
【主权项】：
1、一种半导体激光近、远场分布观测装置，其特征在于：①在底座(1)的中部安置有支柱(2)，载物台(3)固定在支柱(2)的上部，待测芯片(4)搁置在载物台(3)上；②在底座(1)的一侧固定有支杆(5)，光学投影系统(6)由摆臂(7)连接在支杆(5)上，由连杆(8)将变像管(9)保持在芯片(4)的上方，连杆(8)的另一端连接在支杆(5)上；③当观测近场分布时，光学投影系统(6)保持在芯片(4)的上方，变像管(9)保持在光学投影系统(6)的上方；④当观测远场分布时，摆臂(7)绕支杆(5)摆动，将光学投影系统(6)从芯片(4)上方移开，连杆(8)沿支杆(5)下移，使变像管(9)接近芯片(4)。
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