[发明专利]一种用于测量建筑结构物位移的光电测量仪无效

专利信息
申请号: 200610007997.9 申请日: 2006-03-03
公开(公告)号: CN101029822A 公开(公告)日: 2007-09-05
发明(设计)人: 陈勇 申请(专利权)人: 陈勇
主分类号: G01C11/00 分类号: G01C11/00;G01B11/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100016北京市朝*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及测量技术领域,用于测量建筑结构物的位移、振动等参数。它由高速面阵数字CMOS摄像头、模拟面阵摄像头、线阵及面阵光电位置敏感元件(PSD)和电荷耦合器件(CCD)等五种光电转换器件结合电子经纬仪构成。各种光电转换器件通过切换装置结合为一体,可同时或部分接通工作。用本发明测量建筑结构物位移,采样速率高,建筑结构物的动态特性曲线可以很好地描述,测量误差小,而且抗干扰能力强,图像稳定。既可同时使用几种光电转换器件对被测物同步测量,也可根据不同的检测对象,快速切换用某种光电转换器件进行测量。
搜索关键词: 一种 用于 测量 建筑结构 位移 光电 测量仪
【主权项】:
1、一种用于测量建筑结构物位移的光电测量仪,其特征在于:它是由高速面阵数字CMOS摄像头、模拟面阵摄像头、线阵及面阵光电位置敏感元件和电荷耦合器件五种光电转换器件结合电子经纬仪构成,各种光电转换器件分别安装在电子经纬仪的望远镜的上部和下部,通过切换装置结合为一体,在望远镜的目镜一侧安装一组反射镜,在各光电转换器件的同一侧分别安装一个滤光镜。
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