[发明专利]具有抗篡改性的半导体器件无效

专利信息
申请号: 200610008260.9 申请日: 2006-02-16
公开(公告)号: CN1822368A 公开(公告)日: 2006-08-23
发明(设计)人: 松野则昭 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: H01L27/04 分类号: H01L27/04;H01L23/52;H01L21/822;G06F21/00
代理公司: 北京市金杜律师事务所 代理人: 季向冈
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种半导体器件,对利用从背面进行的FIB加工等实施的不正当解析手段具有极高的抗篡改性。该半导体器件具有多层布线结构,使用上层的布线层配置即使被解析也不会造成麻烦的信号布线,使得其遮盖下层的布线层,重要的布线配置在下层的布线层。另外,遮盖扩散分离层地在最下层的金属布线层,以制造上允许的微细布线节距进行布线,为了通过从背面进行的FIB加工到达要解析的目标布线,就必须切断防御布线。还包括使某种信号、或者电压或电流流过防御布线,监视防御布线的电特性,在捕捉到由于对防御布线的剥离、切断、篡改而造成电特性和物理特性的变化时,清除半导体器件内的机密信息、或者将半导体器件转换为固定模式的装置。
搜索关键词: 具有 篡改 半导体器件
【主权项】:
1.一种半导体器件,其特征在于,包括:1条或者多条第1防御布线,设置在形成于衬底或者阱的扩散分离层的上方,以制造上允许的最小布线节距进行布线,使得遮盖上述扩散分离层;在比上述第1防御布线还靠上的上层形成的多个信号布线层;以及对上述第1防御布线提供预定的信号,捕捉上述第1防御布线的电特性或者物理特性的变化的装置。
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